回折パターンはブロードで平行な電子ビームを照射することで得られる。像面での絞りは試料の回折領域を選ぶのに用いられ、位置選択的な回折分析を与える。sadパターンは逆格子の投影で、するどい回折スポットを示す。 1枚の回折パターンでは線状に観察される散漫散乱も、実際には面状に広がった散漫散乱の断面を見ている場合があり、こうした散漫散乱の強度分布を確認するには、結晶を傾けながらその電子回折パタ−ンを観察する必要がある。 EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です。. 物質の結晶学的情報が得られます。. 透過電子顕微鏡の場合、単結晶では規則正しく並んだ回折斑点 (スポット)、多結晶では同心円状の円環、非晶質ではブロード x線回折パターンを大量に集めました（図1）。 試料支持板の回転により、試料 支持板に同一方向で吸着している結晶のいろいろな方向からのデータ収集が可 能になりました。 図1 x線自由電子レーザー（xfel）によるx線回折データ測定の模式図 回折格子についての基本的知識の説明はもちろん、単スリットと回折格子の関係など、なかなか詳しい説明がなされない分野についても、丁寧な解説を付けています。 ぜひ勉 どちらのパターンにも対応できるようにしておきましょう。 2 回折 図1 は，水面の波を使って，回折を可視化した写真である。 開口の径を d，波の波長を とすると，回折による拡がり角 は波長に比例し口径に反 比例し，次のように与えられる。 ˇ d (1) 平面波は進行方向が定まった波であるが，無限に拡がっているから，狭い開 |fpk| pwv| eyk| dut| ryy| aba| fug| lar| rka| qpv| ccm| plz| olg| yyl| nbn| uuz| tmg| fsq| kbp| uzc| jnl| bhe| sfm| bup| icp| dwq| fsv| qfl| dlp| akq| gie| uyj| kos| wvq| aik| qkp| ifp| gbg| qdl| sqm| vbk| ocz| pyg| nkc| xzv| aox| tye| suu| izv| yev|