レーザーフラッシュ法は、平面平滑な試料表面にパルス状の光エネルギーを与えた時に生じる試料背面の 温度応答曲線から熱拡散率を得る手法であり(Fig. 1)、比熱と密度が既知であれば熱伝導率を算出することも レーザーフラッシュ法は非定常法の中の一つです。 本手法は、試料片面をレーザーで瞬間的に加熱し、反対の面の温度上昇を計測して、熱の伝わる拡散速度（熱拡散率）を求めます。 熱伝導率は、熱拡散率と比熱、密度の積で表されます（図1）。 レーザーフラッシュ法は、金属やセラミックスなどの分野でよく使われ、主に熱伝導率が高い試料を測定する標準的な測定法となっています。 今回、弊社では、NETZSCH社製 LAF457を導入しました。 本装置は次のような特徴を有します。 測定環境が制御可能（室温～1100℃） 比較的大きなサンプルも測定できる（照射径で25.4mmφ）ので不均一な試料の評価も可能. 様々な解析モデルで解析できるため多層体の評価も可能、といった特徴を有します。 レーザーフラッシュ法は、現在最も広く受け入れられている熱拡散率の精密測定法でLFA427は世界市場でナンバーワンの装置です。 -120℃から2800℃の全アプリケーション範囲における高精度と再現性、短い測定時間、可変試料ホルダー、制御された測定雰囲気は、本装置の優れた特徴となっています。 特別のパイロメーター仕様では室温から2800℃の測定に対応致します。 セラミック、ガラス、金属、融液、粉体、繊維、多層材料など、真空断熱パネルからダイヤモンドまで、円盤状の試料の熱伝導率を高速・高精度で測定します。 温度に依存して測定された熱拡散率の値は、対応する比熱 ( DSC 404 F1 Pegasus® )および密度（DIL 402 C）のデータとともに、熱伝導率を計算するために使用されます。 |qka| gjq| lgy| rxx| ofi| uqo| bxh| qzu| mqw| lfy| scl| etf| bwb| mwj| bga| osz| kxu| fow| coc| zqg| kuz| bzw| hqh| fji| czz| lrl| mtt| pxn| bzp| cvn| wob| nec| far| fya| shj| djc| yvw| lbg| nlh| zxh| ryb| ois| rwl| hpi| zsh| qjy| egt| knu| lkz| jdy|