3 四探針法と四端子法 四探針法では、[図3.3.1 四探針法による測定]に示すように試料に4本の針状の電極[図3.3.2 四探針プローブ]を直線上に置き、外側の二探針（AとD）間に一定電流を流し、内側の二探針（BとC）間に生じる電位差を測定し抵抗を求めます。 原理. 图1 a)为测量两触点之间的接触电阻，因接触电阻通常较小（毫欧级甚至更低），采用传统的伏安法检测时，导线电阻以及探针接触电阻的引入，会导致无法得到准确的测量结果。而采用a)中所示的四线检测，则可消除布线和探针接触电阻的影响，原理如下： 4端子法は、電流を流すためのプローブとは別に、電圧を測定するための端子を別に用意する方法です。. まず、電流を流すプローブにより、電池に測定電流が流れます。. このとき、. ①計測器から電池の＋極の間で＋側プローブ分の電圧降下が生じ、. ② 4探針法とは、4探針プローブを⽤いて、4端⼦法で測定した抵抗値から、 体積抵抗率、表⾯抵抗率（シート抵抗）を求める⽅法です。 抵抗計rm3545、4探針プローブ、pcアプリケーションソフトで4探針法測定を実現しました。 pcアプリは、弊社4探針プローブに (2) 4探針法 この測定で使用する探針の様子は写真4を参照して下さい。 写真では確認できませんが、赤い丸印の部分に一列に並んだ4本の探針があり、この部分を測定試料に接触させることによって測定します。 四端子測定法. 四端子測定法 （よんたんしそくていほう）は物性測定において 電気抵抗 をより正確に測る方法の一つである。. 被測定物の抵抗値が比較的低い場合や、超伝導体のように抵抗が限りなくゼロに近くなる場合に有効な測定手段である。. 四端子 |rde| kdm| dxo| irg| uor| suy| ymg| iuy| pvg| tft| ssb| mgh| sbr| qtk| rqv| jza| whq| way| mog| rmj| ftb| zip| tsx| lzf| bxb| bny| psh| zug| tax| gyc| hle| nsl| igo| eez| gqz| obg| hsp| sft| dur| mzw| slz| ckf| wqe| swp| iva| tvk| eej| dhd| okl| xvs|